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关于ARM芯片Test模式的有关问题

热度:1191   发布时间:2013-02-26 00:00:00.0
关于ARM芯片Test模式的问题
曾经用过两款ARM芯片,AT91RM9200和S3C2510,发现这两款芯片都有一个模式选择引脚,在AT91RM9200中是TST0和TST1引脚,在S3C2510中是TMOD引脚,数据手册中说通过这些引脚设置,可以选择芯片工作在正常功过模式,还是测试模式。
请教一下高手,当这些ARM芯片进入测试模式时,芯片个IO口出于什么状态,芯片还可以通过仿真器进行操作吗?谢谢!
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本来想帮你的,结果发现我也无能为力,抱歉哦。对了,百度谷歌一下关键字 兴许可以找到答案
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百度谷歌要是能找到,也不在这发帖了。
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测试模式是不是大家都没有用过呀?
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